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直流微電阻計(jì)與交流微電阻計(jì)測(cè)量和使用的區(qū)別

更新時(shí)間：2014-02-18   點(diǎn)擊次數(shù)：2728次

 

直流微電阻計(jì)與交流微電阻計(jì)測(cè)量和使用的區(qū)別，日本日置的交流微電阻計(jì)以HIOKI 3560和HIOKI3561為例，日本日置直流微電阻計(jì)以HIOKI 3540和HIOKI 3541為例。這樣交流微電阻計(jì)與直流微電阻計(jì)區(qū)別在下面表里反應(yīng)出來(lái)

測(cè)量原理 直流微電阻計(jì)（3540、3541） 交流微電阻計(jì)3560、3561
測(cè)量原理 從主機(jī)輸出DC恒電流、確認(rèn)被測(cè)量物（電阻）による電壓下降 從主機(jī)輸出AC恒電流、確認(rèn)被測(cè)量物（電阻）引起的電壓下降
DC電流回路（蓄電池等）上AC電流不會(huì)有影響
電阻測(cè)量精度 比較高（zui高0.007％） 若干低（zui高0.5％）
熱起電力影響 有影響（3541能去掉）熱起電力發(fā)生多余電壓引起電阻計(jì)的精度低下 沒(méi)有
微電阻量程測(cè)量電流 比較大（3540是100mA、3541是1A）嫌惡大電流的元件（開(kāi)關(guān)的氧化膜等）被破壞 ?。?560是7.4mA、3561是10mA）



 

測(cè)量原理 直流微電阻計(jì)（3540、3541） 交流微電阻計(jì)3560、3561
測(cè)量原理 從主機(jī)輸出DC恒電流、確認(rèn)被測(cè)量物（電阻）による電壓下降 從主機(jī)輸出AC恒電流、確認(rèn)被測(cè)量物（電阻）引起的電壓下降
DC電流回路（蓄電池等）上AC電流不會(huì)有影響
電阻測(cè)量精度 比較高（zui高0.007％） 若干低（zui高0.5％）
熱起電力影響 有影響（3541能去掉）熱起電力發(fā)生多余電壓引起電阻計(jì)的精度低下 沒(méi)有
微電阻量程測(cè)量電流 比較大（3540是100mA、3541是1A）嫌惡大電流的元件（開(kāi)關(guān)的氧化膜等）被破壞 ?。?560是7.4mA、3561是10mA）